交流阻抗儀半導體芯片測試應用

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發布時間：2020-05-21 16:01
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相關產品：MFIA，MF-IA，HF2TA，HF2LI，HF2IS

應用領域

l 半導體芯片測試與表征

l 模擬混合信號性能測量

l 太陽能電池和LED（發光二極管）的表征

l 在晶片級測量PCM（過程控制），例如電阻，電容，諧振和其他電參數

l 半導體鍵合優化。

目的

執行高通量半導體器件測試和表征。

優勢

在交流阻抗儀半導體芯片測試應用中，HF2IS提供了2個信號發生器，2個測量單元和幾種測量工具，可以低成本滿足精度要求，從而提供了一種經濟的測試和測量解決方案。

描述

交流阻抗儀半導體芯片測試應用

對半導體特性的新要求包括以高通量方式對被測樣品進行測量。這是增加數據點數量，減少漂移影響并保持測量周期較小所需的。對于不希望在生產測試儀上執行測試序列并且正在尋求便捷，經濟高的測試和測量解決方案的工程師，HF2IS提供快速，靈活的信號生成功能，以及信號采集功能。HF2IS提供了直接在儀器內部運行用于信號生成和響應分析的軟件的選項，從而在μHz至50 MHz的寬頻率范圍內都具有吞吐量和效率。

HF2IS阻抗譜儀的主要特性

靈活的生成，數據采集，快速的重復和參數更新，頻率步進，超低噪聲操作，高穩定性時鐘

l 1 μHz至50 MHz頻率范圍

l 2個測量單元，2個高頻發生器

l 8個同時頻率

l 2個輔助輸入，4個輔助輸出，32個數字I / O（DIO）

l 實時可編程性

l 集成頻率響應分析儀，FFT頻譜分析儀和示波器

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瑞士Zurich Instruments 官網資料整理

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