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交流阻抗儀半導體芯片測試應用

交流阻抗儀半導體芯片測試應用

  • 分類:Blogs
  • 作者:
  • 來源:
  • 發布時間:2020-05-21 16:01
  • 訪問量:

交流阻抗儀半導體芯片測試應用

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詳情

相關產品:MFIAMF-IAHF2TAHF2LIHF2IS

 

應用領域

l  半導體芯片測試與表征

l  模擬混合信號性能測量

l  太陽能電池和LED(發光二極管)的表征

l  在晶片級測量PCM(過程控制),例如電阻,電容,諧振和其他電參數

l  半導體鍵合優化。

 

目的

執行高通量半導體器件測試和表征。

 

優勢

在交流阻抗儀半導體芯片測試應用中,HF2IS提供了2個信號發生器,2個測量單元和幾種測量工具,可以低成本滿足精度要求,從而提供了一種經濟的測試和測量解決方案。

 

描述

交流阻抗儀半導體芯片測試應用

對半導體特性的新要求包括以高通量方式對被測樣品進行測量。這是增加數據點數量,減少漂移影響并保持測量周期較小所需的。對于不希望在生產測試儀上執行測試序列并且正在尋求便捷,經濟高的測試和測量解決方案的工程師,HF2IS提供快速,靈活的信號生成功能,以及信號采集功能。HF2IS提供了直接在儀器內部運行用于信號生成和響應分析的軟件的選項,從而在μHz50 MHz的寬頻率范圍內都具有吞吐量和效率。

 

HF2IS阻抗譜儀的主要特性

靈活的生成,數據采集,快速的重復和參數更新,頻率步進,超低噪聲操作,高穩定性時鐘

l  1 μHz50 MHz頻率范圍

l  2個測量單元,2個高頻發生器

l  8個同時頻率

l  2個輔助輸入,4個輔助輸出,32個數字I / ODIO

l  實時可編程性

l  集成頻率響應分析儀,FFT頻譜分析儀和示波器

 

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瑞士Zurich Instruments 官網資料整理

 

 


 

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